国内刊号:11-2283/TM
国际刊号:1003-3076
发布日期:
作者:郭心宇1,2, 白云2, 雷天民1
单位:1. 西安电子科技大学先进材料与纳米科技学院, 陕西 西安 710071;
\r\n2. 中国科学院微电子研究所高频高压器件与集成研发中心, 北京 100029
关键词:功率器件, 超结, VDMOS
基金:国家重点研发计划项目(2016YFB0100601)
在高耐压器件中,保持高耐压的同时减少漂移区电阻是提升器件性能的关键,超结理论的提出使器件在相同耐压下具有更小的漂移区电阻。通过利用Silvaco TCAD软件对器件结构参数进行了计算优化仿真,得到了击穿电压为1680V,比导通电阻为0?60mΩ·cm2的超结VDMOS器件。
来源:2018年第10期
《电工电能新技术》期刊编辑部